Microscope électronique à balayage – MEB

SEM

Microscope électronique à balayage – MEB

Hitachi

Modèle

TM3030

Institution(s)

  • Polytechnique Montréal

Personne contact

Claire Cerclé (claire.cercle@polymtl.ca)

Type de test

MEB, microscopie electronique

Description

Imagerie + appareil de recouvrement Quorum TES

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